In dem ganztägigen Seminar lernen die Teilnehmer die theoretischen Grundlagen und praktischen Anwendungen der simultanen Weg- und Winkelmessung mit Schwerpunkt auf der Kompensation des Abbe-Fehlers kennen.
Die Experten von SIOS vermitteln,
- wie man Messsysteme korrekt positioniert,
- geometrische Abweichungen minimiert,
- einen möglichst Abbe-fehlerfreien Messaufbau realisiert,
- Abbe-Fehler rechnerisch kompensiert und
- thermische, physikalische Umwelteinflüsse der Messumgebung berücksichtigt,
um höchste Präzision zu erzielen.
„Unsere Kunden aus Branchen wie Optik, Halbleiter und Medizintechnik benötigen die kleinstmöglichen Messunsicherheiten, wobei diese Anforderungen stetig steigen. Mit diesem Praxisseminar möchten wir den Teilnehmern das notwendige Wissen vermitteln, um ihre Messungen zu optimieren und deren Qualität nachhaltig zu sichern.“ erklärt Falko Seyfferth, Anwendungsingenieur bei SIOS.
Die Teilnehmerzahl ist auf eine kleine Gruppe begrenzt, um einen intensiven Wissenstransfer zu gewährleisten. Die Teilnahmegebühr beträgt 249 Euro und beinhaltet Seminarunterlagen, Verpflegung, ein Zertifikat und freien Eintritt zur W3+ Fair in Jena am 25. und 26.09.2024.
Interessenten können sich ab sofort über das Formular auf der SIOS-Website zum Seminar anmelden.
Die SIOS Meßtechnik GmbH wurde 1991 gegründet und stellt laserinterferometrische Präzisionsmesssysteme für die Nanometrologie her. Die Messung von Längen, Winkeln, Schwingungen und weiteren Größen erfolgt mit höchster Auflösung und Präzision in Verbindung mit vorteilhaften Anwendereigenschaften. Die flexible Struktur der Firma ermöglicht es, die zu fertigenden Geräte individuell auf spezielle Kundenwünsche und Einsatzbedingungen anzupassen.
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